测试程式开发
拥有专业的测试开发团队,能够为客户提供一站式的测试开发服务,包括测试方案评估制定、测试治具开发、测试程序撰写、量产导入与维护、测试效率提升等。帮助客户降低测试成本,缩短测试周期,提升产品竞争力。
针对CIS测试,可以配合客户定制化不同spec要求的光源,提供客制化的治具方案,实现高度自动化测试,在确保测试品质的前提下获得更高的产出。
合肥芯测提供各类测试开发服务:
测试程式开发
测试治具开发
测试平台转换
同测速测试方案评估
Multi site测试方案评估:
评估探针卡排列方式
评估机台资源
评估测试方式(Cable Mount或者Direct Docking)
测试系统:
- 50/100/200 兆测试频率
- 50/100 Mbps data rate
- 256数字通道/512数字通道/1024数字通道
- 平行测试可达512 sites
- 32/64/128M pattern内存
- 32M capture memory per pin
- 多样化VI电源
- 弹性化硬件构架(可互换式I/O,VI,ADDA)
- Real parallel trim/match功能
- 时序频率测试
- 支持STDF工具
- AD/DA功能卡(需选配)
- SCAN测试功能
- C/C++程序语言
- 人性化的Windows 10作业环境