测试程式开发

拥有专业的测试开发团队,能够为客户提供一站式的测试开发服务,包括测试方案评估制定、测试治具开发、测试程序撰写、量产导入与维护、测试效率提升等。帮助客户降低测试成本,缩短测试周期,提升产品竞争力。
针对CIS测试,可以配合客户定制化不同spec要求的光源,提供客制化的治具方案,实现高度自动化测试,在确保测试品质的前提下获得更高的产出。
合肥芯测提供各类测试开发服务:
测试程式开发
测试治具开发
测试平台转换
同测速测试方案评估
Multi site测试方案评估:
评估探针卡排列方式
评估机台资源
评估测试方式(Cable Mount或者Direct Docking)

测试系统:

  • 50/100/200 兆测试频率
  • 50/100 Mbps data rate
  • 256数字通道/512数字通道/1024数字通道
  • 平行测试可达512 sites
  • 32/64/128M pattern内存
  • 32M capture memory per pin
  • 多样化VI电源
  • 弹性化硬件构架(可互换式I/O,VI,ADDA)
  • Real parallel trim/match功能
  • 时序频率测试
  • 支持STDF工具
  • AD/DA功能卡(需选配)
  • SCAN测试功能
  • C/C++程序语言
  • 人性化的Windows 10作业环境